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使用粒度儀進(jìn)行粒度測(cè)試的基礎(chǔ)知識(shí)

點(diǎn)擊: 次 時(shí)間:2017-06-19 11:33

一、粒徑的定義與粒度分布的概念
    所謂粒徑,就是顆粒的直徑、大小或尺寸?,F(xiàn)實(shí)的粉體顆粒,如滑石粉、碳酸鈣、水泥等顆粒,其形狀是不規(guī)則的,粒徑如何描述?實(shí)際上,迄今為止的任何一種粒度測(cè)量?jī)x器,都是用現(xiàn)實(shí)顆粒同圓球顆粒相比較的方法測(cè)量顆粒大小的,即"如果顆粒是個(gè)圓球,那么它應(yīng)該是(等效于)這么大"。粒徑的科學(xué)定義如下:當(dāng)被測(cè)顆粒的某種物理特性或物理行為與某-直徑的同質(zhì)球體(或其組合)最相近時(shí),就把該球體的直徑(或其組合)作為被測(cè)顆粒的等效粒徑(或粒度分布)。
使用粒度儀進(jìn)行粒度測(cè)試的基礎(chǔ)知識(shí)說(shuō)明-衡天力儀器網(wǎng)
    不同原理的儀器,選擇顆粒不同的與其大小相關(guān)的物理性質(zhì)或行為來(lái)度量其大小,例如,激光粒度儀選擇顆粒對(duì)光的散射特性,沉降儀選擇顆粒在液體中的沉降特性,篩分法選擇顆粒能否通過篩孔,等等。由于不同儀器選擇同一顆粒不同的物理性質(zhì)作為等效時(shí)的參考量,因此用它們測(cè)量同一不規(guī)則顆粒時(shí),結(jié)果可能是不同的。有時(shí)甚至同一種原理的儀器,測(cè)試條件不同,結(jié)果也可能不同,例如,篩分測(cè)量的結(jié)果同振篩的時(shí)間有關(guān)。
    粒徑用來(lái)描述一個(gè)顆粒的大小。一種粉體樣品的各個(gè)顆粒,大小互不相同,這時(shí)要用粒度分布才能較全面地描述樣品顆粒的整體大小。粒度分布是指各種大小的顆粒占顆??倲?shù)的比例??梢杂帽砀?粒度分布表)或曲線表示。2.現(xiàn)代常見的幾種粒度測(cè)量?jī)x器的比較

二、 現(xiàn)代常見的幾種粒度測(cè)量?jī)x器的比較

1、激光粒度儀
原理:根據(jù)光的散射現(xiàn)象,即顆粒越小散射角越大的現(xiàn)象(可稱為靜態(tài)光散射)
理論測(cè)量范圍:0.05~2000μm
優(yōu)點(diǎn):動(dòng)態(tài)范圍大、測(cè)量速度快、操作簡(jiǎn)便、重復(fù)性好
缺點(diǎn):分辨率低,不宜測(cè)量均勻性很好的樣品

2、庫(kù)爾特(電阻法)顆粒計(jì)數(shù)器
原理:小孔電阻原理
理論測(cè)量范圍:1~256μm
優(yōu)點(diǎn):分辨率高、重復(fù)性好、操作較簡(jiǎn)便
缺點(diǎn):易堵孔、動(dòng)態(tài)范圍小,不宜測(cè)量分布范圍寬的樣品,如水泥

3、沉降儀(包括重力沉降、離心沉降、光透沉降、沉降管、移液管等)
原理:沉降原理,即Stokes原理,根據(jù)顆粒的沉降速度測(cè)量顆粒的大小。
理論測(cè)量范圍:離心沉降:0.01~100μm 其它:2~100μm
優(yōu)點(diǎn):原理直觀,造價(jià)較低
缺點(diǎn):操作復(fù)雜,結(jié)果受環(huán)境和操作者影響較大,重復(fù)性較差

4、動(dòng)態(tài)光散射儀(PCS)
原理:根據(jù)微小顆粒在液體中做布朗運(yùn)動(dòng),造成溶液中局部顆粒濃度變化,從而引起散射光的強(qiáng)度隨時(shí)間變化,通過分析散射光的自相關(guān)性,推算顆粒的運(yùn)動(dòng)速度,最終測(cè)知顆粒大小。
測(cè)量范圍:2nm~2000nm(2μm)

5、顆粒圖像工作站
原理:顯微鏡方法與數(shù)字圖像處理技術(shù)相結(jié)合
理論測(cè)量范圍:0.5~1200μm
優(yōu)點(diǎn):分辨率高、可觀察顆粒形貌和狀態(tài)

    而且顆粒圖像工作站是采用直接測(cè)量的方法,不用于以上幾種測(cè)試設(shè)備,不需要通過光散射、沉降時(shí)間等建立等比關(guān)系來(lái)測(cè)試。直接能夠獲得顆粒的圖像照片,更加直觀的同時(shí)也杜絕了因?yàn)閮x器部件出現(xiàn)問題導(dǎo)致的測(cè)試失準(zhǔn)。 顆粒圖像工作站是利用高清晰的工業(yè)攝像頭通過光學(xué)顯微鏡裝置將需要測(cè)試的顆粒樣品狀態(tài)逐一拍攝下來(lái),利用專門開發(fā)的顆粒圖像分析軟件將所有圖像拼接、處理后,即可獲得每個(gè)顆粒的投影面積、粒徑大小等數(shù)據(jù),再經(jīng)過進(jìn)一步統(tǒng)計(jì)和計(jì)算就可獲得所需要數(shù)據(jù)了。能夠獲得形狀參數(shù)是其最大優(yōu)勢(shì),除了顆粒圖像工作站外,還沒有其他儀器可以獲得球形度、長(zhǎng)徑比等形貌參數(shù)。而且其價(jià)格適中操作簡(jiǎn)便,是很多行業(yè)進(jìn)行顆粒測(cè)試的首選儀器之一。


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